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對(duì)分析工作者來(lái)說(shuō),關(guān)心的問(wèn)題是熒光強(qiáng)度與濃度之間的關(guān)系。下面將對(duì)此作一些討論。
在理想情況下,假設(shè)所研究的體系滿(mǎn)足下列條件:
1)原子只吸收某一頻率的光能,并在被激發(fā)至特定的能級(jí)后放出熒光。
2)整個(gè)熒光池處于可被檢測(cè)器觀察到的立體角之內(nèi),也即熒光池不存在可吸收入射光而不為檢測(cè)器所觀察到的區(qū)域。
3)產(chǎn)生的熒光不會(huì)在熒光池中被重新吸收。
所當(dāng)指出:光強(qiáng)度與很多因素有關(guān),重要的包括:
①輻射源的強(qiáng)度
②原子化器中光源照射到的區(qū)域內(nèi)原子的數(shù)目(濃度)
③光源輻射/吸收分?jǐn)?shù)
④吸收轉(zhuǎn)化為輻射擊的效率
⑤原子化器中熒光信號(hào)被自吸收的量
據(jù)此,可以得到下列關(guān)系式。
(1-1)
式中:I0——輻射光能量
——測(cè)量的立體角
Ф——熒光效率
AT——總吸收系數(shù)。即吸收的光能與入射光能之比
AT = (1-2)
按照不同的光源和不同的濃度狀況,可以得到AT與分析濃度的關(guān)系如表1-2:
表1-2 不同情況下AT的與待測(cè)物濃度之間的關(guān)系
光源類(lèi)型 | 分析物濃度 | AT形式 |
連續(xù) | 低 | AT∝N |
連續(xù) | 高 | AT∝N |
線 | 低 | AT∝N |
線 | 高 | AT為常數(shù) |
以上為理想狀態(tài),在實(shí)際情況下,工作曲線變得復(fù)雜起來(lái),必須加一些校正因數(shù),同時(shí)也要看到無(wú)論是線性和連續(xù)光源,熒光強(qiáng)度與濃度之間的線性關(guān)系只有在原子為低濃度條件下才能成立。
自吸也是熒光分析中經(jīng)常遇到的,尤其是原子濃度較高時(shí)更應(yīng)注意;自吸可以引起熒光信號(hào)變化熒光譜線變寬,從而減少峰值強(qiáng)度。
線性及連續(xù)光源在分析物濃度高時(shí)的熒光強(qiáng)度會(huì)發(fā)生變化,這種現(xiàn)象的主要原因是自吸。
還應(yīng)指出的是:無(wú)論是連續(xù)光源或者線性光源,光源強(qiáng)度越高,其測(cè)量線性工作范圍越寬,因?yàn)檫@樣可以使線性下端延至愈來(lái)愈低的濃度值,這就是說(shuō),在痕量分析時(shí)是不會(huì)遇到曲線彎曲情況的。
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